Обчисліть ступінь полімеризації полівінілхлориду, середня відносна молекулярна маса дорівнює 350000 та середню відносну молекулярну масу поліетилену із середнім ступенем полімеризації 56000. (ДУЖЕ

1)  4Li + O₂ = 2Li₂O
        Li⁰ - 1e → Li⁺¹          |1 |4 | -- восстановитель, процесс окисления
        O₂⁰ + 4e → 2O⁻²     | 4 |1 | -- окислитель, процесс восстановления
2) 2Na + O₂ = Na₂O₂ -- горение натрия
         Na⁰ - 1e → Na⁺  |1 |2 | -- восстановитель, процесс окисления
         O² +2e → 2O⁻¹   |2 | 1| -- окислитель, процесс восстановления
3)  4Na + O₂ = 2Na₂O -- окисление натрия (медленное, на воздухе)
4)  4Al + 3O₂ = 2Al₂O₃
5)  3Fe + 2O₂ = FeO*Fe₂O₃ (или Fe₃O₄) -- реакция горения железа с образованием железной окалины

В природе существуют две разновидности твердых тел, различающиеся по своим свойствам: кристаллические и аморфные.

Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.

Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.

Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.

Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.

^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.

Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.