Найти: NxHyCrzOe-?, где х,у,z,e-индексы Решение: Пусть масса нашего вещества равна 100г,тогда: m(N)=11.11г m(H)=3.17г m(Cr)=41.28г m(O)=44.44г Находим отношение химических количеств: n(N):n(H):n(Cr):n(O)=11.11/14 : 3.17/1 : 41.28/52 : 44.44/16 = 0.792 : 3.17 : 0.794 : 2.778 Теперь находим отношение индексов(это делается очень просто,делим полученные числа на наименьшее из них): x:y:z:e=0.792/0.792 : 3.17/0.792 : 0.794/0.792 : 2.778/0.792 = 1 : 4 : 1 : 3.5 Т.к. один из индексов получился дробным,то все индексы нужно привести к целым,домножив ВСЕ индексы на одинаковое наименьшее число,после которого все индексы станут целыми,в нашем случае нужно домножить на 2. Получаем: x:y:z:e=2:8:2:7 Простейшая формула: N2H8Cr2O7 - брутто формула или (NH4)2Cr2O7 - дихромат аммония ответ: (NH4)2Cr2O7
В природе существуют две разновидности твердых тел, различающиеся по своим свойствам: кристаллические и аморфные.
Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.
Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.
Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.
Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.
^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.
Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.
0,0(0 оценок)
Полный доступ
Позволит учиться лучше и быстрее. Неограниченный доступ к базе и ответам от экспертов и ai-bota
Оформи подписку
