Я не розумію, звідки треба брати заряд(и) кульок. 1. На вертикальну спицю нанизують дві негативно заряджені кульки. Вони можуть ковзати по спиці. Заряди кульок однакові за модулем. Верхня кулька розташована на відстані 4см від нижньої. Маси кульок 50мг. Знайти заряди кульок

2. На вертикальну спицю нанизано дві позитивно заряджені кульки. Вони без тертя можуть ковзати по спиці. Заряд верхньої кульки 3нКл. Верхня кулька знаходиться на висоті 3см від нижньої. Маса верхньої кульки 30мг. Знайти заряд нижньої кульки.

Разрешающая микроскопа составляет величину порядка длины волны излучения, в котором ведется наблюдение:

Для видимого света нм, в случае электронного микроскопа разрешающая определяется длиной волны де Бройля ускоренных электронов. Современные электронные микроскопы работают с энергиями электронов порядка 1 кэВ, найдем длину волны де  Бройля, соответствующую этой энергии:

м что на несколько порядков меньше длины волны видимого света, таким образом, электронные микроскопы обладают намного большей разрешающей нежели оптические.

Дело в том, скорее всего, что в подавляющем большинстве случаев мы принимаем, что сила упругости линейно зависит от величины деформации.
По определению модуль упругости Е = dSigma/dEpsilon, где dSigma - малое изменение механического наппяжения в материале, dEpsilon - малая упругая деформация образца. В ряде случаев мы принимаем Е = Sigma/Epsilon, что является приближением. Как видно из диаграммы, зависимость линейна лишь на сравнительно небольшом начальном участке, у каждого материала эта диаграмма своя. Некоторые материалы и вовсе деформируются не пропорционально delta x, а, например, (delta x)^2. Но даже если мы приблизительно точно получим уравнение кривой, это будет математическая функция, с той или иной степенью точности ложащаяся на точки и расхождения все равно будут. Плюс нельзя сбросить со счета погрешность измерений. Надеюсь, что я ответил на Ваш вопрос.